Measurement based nonlinear electrothermal modeling of GaAs FET with dynamical trapping effects

  1. Ouarch, Z.
  2. Collantes, J.M.
  3. Teyssier, J.P.
  4. Quere, R.
Konferenzberichte:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

Datum der Publikation: 1998

Ausgabe: 2

Seiten: 599-602

Art: Konferenz-Beitrag

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Datenquelle: Scopus