Measurement based nonlinear electrothermal modeling of GaAs FET with dynamical trapping effects
- Ouarch, Z.
- Collantes, J.M.
- Teyssier, J.P.
- Quere, R.
Actes:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest
ISSN: 0149-645X
Any de publicació: 1998
Volum: 2
Pàgines: 599-602
Tipus: Aportació congrés