Characterising and modelling thermal behaviour of radio-frequency power LDMOS transistors

  1. Collantes, J.M.
  2. Bouysse, Ph.
  3. Quere, R.
Zeitschrift:
Electronics Letters

ISSN: 0013-5194

Datum der Publikation: 1998

Ausgabe: 34

Nummer: 14

Seiten: 1428-1430

Art: Artikel

DOI: 10.1049/EL:19980975 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus