Auger electron spectroscopical investigation of interfacial segregation in the Cu-Bi system
- López, G.A.
- Mittemeijer, E.J.
ISSN: 1662-9507, 1012-0386
Ano de publicación: 2005
Volume: 237-240
Número: PART 2
Páxinas: 1141-1146
Tipo: Achega congreso
Revista:
Defect and Diffusion Forum