Determination of the integrated x-ray scattering intensities through the electron-pair relative-motion density at the origin
- Valderrama, E.
- Fradera, X.
- Ugalde, J.M.
ISSN: 1094-1622, 1050-2947
Any de publicació: 2001
Volum: 64
Número: 4
Pàgines: 4
Tipus: Article