A precise analysis of the IEC flickermeter when subject to rectangular voltage fluctuations
- Ruiz, J.
- Gutierrez, J.J.
- Irusta, U.
- Lazkano, A.
ISSN: 0018-9456
Any de publicació: 2009
Volum: 58
Número: 11
Pàgines: 3839-3846
Tipus: Article
ISSN: 0018-9456
Any de publicació: 2009
Volum: 58
Número: 11
Pàgines: 3839-3846
Tipus: Article