Structure and impedance spectroscopy of Pr1-x Sr x Fe0.8Co0.2O3-δ (x=0.1, 0.2, 0.3) thin films grown by laser ablation

  1. De Larramendi, I.R.
  2. López-Antón, R.
  3. De Larramendi, J.I.R.
  4. Rojo, T.
Zeitschrift:
Applied Physics A: Materials Science and Processing

ISSN: 0947-8396,  1432-0630

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 93

Nummer: 3

Seiten: 655-661

Art: Artikel

DOI: 10.1007/S00339-008-4691-Z GOOGLE SCHOLAR
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