Test workbench for electronic telecommunication systems
- Arias, J.
- Jiménez, J.
- Aranguren, G.
- Lázaro, J.
- Martín, J.L.
Konferenzberichte:
IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)
Datum der Publikation: 2002
Ausgabe: 3
Seiten: 2509-2514
Art: Konferenz-Beitrag