Test workbench for electronic telecommunication systems

  1. Arias, J.
  2. Jiménez, J.
  3. Aranguren, G.
  4. Lázaro, J.
  5. Martín, J.L.
Actes:
IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)

Any de publicació: 2002

Volum: 3

Pàgines: 2509-2514

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/IECON.2002.1185368 GOOGLE SCHOLAR